?三次元測量儀，又稱為三坐標(biāo)測量機（Coordinate Measuring Machine，CMM），是一種用于精確測量物體三維空間尺寸和形狀的精密測量設(shè)備。挑選合適的三次元測量儀測頭，需要綜合考慮測量任務(wù)、精度要求、測量環(huán)境等多方面因素，以下是具體的挑選要點：
按測量任務(wù)
接觸式測量任務(wù)
單點測量：若只需獲取物體表面離散點的坐標(biāo)，如測量孔的位置、圓柱的直徑等，觸發(fā)式測頭是較好的選擇。它通過與被測物體接觸觸發(fā)來獲取測量點數(shù)據(jù)，操作簡單、成本較低，能滿足大多數(shù)單點測量的精度要求。
連續(xù)掃描測量：對于需要獲取大量連續(xù)數(shù)據(jù)以描繪物體輪廓或曲面的任務(wù)，如汽車覆蓋件、葉輪等復(fù)雜曲面的測量，掃描測頭更為合適。它可以在物體表面連續(xù)移動并實時采集數(shù)據(jù)，能夠快速、精確地獲取物體的三維輪廓信息。
非接觸式測量任務(wù)
透明或柔軟物體測量：對于玻璃、橡膠等透明或柔軟的物體，由于接觸式測量可能會對物體表面造成損傷或變形，此時應(yīng)選擇光學(xué)非接觸式測頭，如激光三角測量測頭、白光干涉測頭。它們通過光學(xué)原理測量物體表面的反射光或散射光來獲取坐標(biāo)信息，不會對被測物體產(chǎn)生物理接觸力。
微小零件或特征測量：在測量微小零件或具有微小特征的物體時，如電子芯片、微機械零件等，需要高分辨率和高精度的測量。掃描電子顯微鏡（SEM）測頭或原子力顯微鏡（AFM）測頭能夠滿足這種需求，它們可以在納米尺度上對物體進行測量，提供極其精確的表面形貌信息。
按精度要求
高精度測量：當(dāng)測量精度要求達到微米甚至納米級別時，如航空航天領(lǐng)域的葉片測量、精密模具的檢測等，應(yīng)選擇精度高的測頭，如高精度的激光干涉測頭、電容式測頭。這些測頭具有較高的分辨率和較小的測量不確定度，能夠滿足高精度測量的要求。
一般精度測量：對于一般工業(yè)生產(chǎn)中的測量任務(wù)，如汽車零部件的批量檢測、機械加工零件的常規(guī)測量等，測量精度要求相對較低，可選擇觸發(fā)式測頭或普通的光學(xué)測頭，這些測頭具有較高的性價比，能夠在滿足測量精度要求的同時，降低測量成本。
按測量環(huán)境
惡劣環(huán)境：在高溫、潮濕、粉塵等惡劣環(huán)境下進行測量時，需要選擇具有良好防護性能的測頭。例如，防水防塵等級高的接觸式測頭或具有抗干擾能力的激光測頭，能夠在惡劣環(huán)境中穩(wěn)定工作，保證測量結(jié)果的準(zhǔn)確性。
潔凈環(huán)境：在實驗室等潔凈環(huán)境中，對測頭的清潔度要求較高。非接觸式的光學(xué)測頭由于不會產(chǎn)生磨損和碎屑，更適合在這種環(huán)境下使用。同時，要注意測頭的材料應(yīng)具有良好的耐腐蝕性和穩(wěn)定性，以避免對測量環(huán)境造成污染。
按被測材料
硬脆材料：對于金屬、陶瓷等硬脆材料的測量，可選擇硬質(zhì)合金或金剛石材質(zhì)的接觸式測頭，它們具有較高的硬度和耐磨性，能夠在不損壞測頭的前提下，準(zhǔn)確測量硬脆材料的表面特征。
軟質(zhì)材料：測量塑料、橡膠等軟質(zhì)材料時，為了避免測頭對材料表面造成壓痕或變形，應(yīng)選擇接觸力小的測頭，如光學(xué)測頭或采用特殊彈性材料制成的接觸式測頭。